高温老化箱可对电子元器件施加高温、高湿和一定的驱动电流进行加速老化并通过试验结果评估电子器件是否存在表面玷污、引线焊接不良、沟道漏电等一系列缺陷，并以此为依据对电子元器件的工作条件进行调整和可靠性计算。

高温老化箱可执行的加速老化试验项目

1.高温加速老化是加速老化试验中最基本的环境应力式高温，在此过程中应定期对选定参数进行检测，直至退化超过寿命终止即可。

2.恒温老化试验运行方式与高温老化运行是相似的，在此过程中需要明确样品数量以及允许失效的数量范围。

3.温度循环的加速老化试验一般来说不是为了引起特定性能参数的退化而是提供封装在组价里的光路长期机械稳定性的附加说明。

电子元器件老化测试注意事项

1.老化设备应具备良好的防自激振荡设施。

2.试验过程如果需要进行施加电压应从0开始缓慢增加，去电压时也应缓慢减小，若违规操作瞬间脉冲会对器件造成损坏。

3.老化试验结束后应在规定时间范围内进行数据测量，若超时有些超差的参数会恢复到原来的数值。

4.为了能够使得晶体管在最高温下老化，应该准确对晶体管热阻进行测量。

以上就是电子元器件在进行高温老化试验时应该注意的事项，希望能够对大家有所帮助。

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