电子元器件做耐湿试验及湿热试验如何选型
发表时间:2022-10-13 网址:https://www.atmars.com/ 编辑:admin
一、湿热试验的种类
高低温湿热交变试验箱中的湿热试验主要分为恒定湿热试验,交变湿热试验,(军标)湿热试验三种,其中电工电子产品件主要采用恒定的湿热试验,而其中又分为稳态湿热试验和耐湿试验,对电子元器件可靠性考核一般进行耐湿试验。
二、耐湿试验的定义
耐湿试验采用温度循环来促进试验的效果,模拟凝露和干燥的交替过程,使进入电子元器件密封外壳内的水汽产生“呼吸”作用,从而加速其腐蚀过程。在高温条件下,潮气的影响将更加明显,增强试验效果。
三、耐湿试验的目的
耐湿试验的目的是用加速方式评估电子元器件及其所用材料在炎热和高湿条件(典型的热带环境)下抗退化效应的能力。
四、耐湿试验常用标准
序号 | 试验标准 |
1 | GJB 360B—2009《电子及电气元件试验方法》中涉及湿热试验的有“稳态湿热试验”和“耐湿试验” |
2 | GJB 548B—2005《微电子器件试验方法和程序》中涉及“耐湿试验” |
3 | GJB 128A—1997《半导体分立器件试验方法》中涉及有“耐湿试验” |
4 | GJB150.9A-2009湿热试验 |
5 | GB/T 2423.3-2016环境试验 第2部分:试验方法 试验Cab:恒定湿热试验 |
五、星拓提供的湿热试验设备
高低温湿热交变试验箱AH-系列:AH-80,AH-150,AH-225,AH-408,AH-800,AH-1000,标准温度范围:-40°~150° ,非标定制温度范围:-70°~180°,湿度%20~98%,如有低温低湿需求,可以联系星拓环境试验设备厂家定制。
六、湿热试验对电子产品产生的劣化效应
湿热试验对电子设备影响的途径主要有两种:一种是表面受潮(吸附式),它通常是由凝露和表面吸附引起的;另一种是体积受潮(即吸入式),它是由水蒸气扩散和吸收现象所引起的。
序号 | 劣化效应 |
1 | 腐蚀作用。腐蚀作用是湿热的主要效应,主要是加速电解和电化学反应,直接侵蚀设备的保护镀层,造成表面劣化。腐蚀后,结构强度减弱,机械性能也发生劣化,活动部分卡死,表面电阻增大,造成电接触不良。 |
2 | 物理性能的影响。对湿气敏感的吸湿材料,如某些塑料零件、纸、纸胶板等,在湿热的条件下发生膨胀和形变,导致尺寸的改变,功能的破坏,降低了物理强度。 |
3 | 电性能的改变。由于水分子的沉积,绝缘材料吸湿后电性能和热性能受到损坏,使电气材料及元器件电参数发生变化。如绝缘电阻下降,泄漏电流增大,介电常数增大,介质损耗角也增大。耐压强度下降,在高电压下易出现飞弧,绝缘体发生短路、漏电、击穿等现象,严重影响电性能,造成工作不稳定,直接缩短设备使用寿命。 |
综上所述,湿热试验箱或湿热室提供一定的高温高湿环境以及有测量电性能参数的电测量系统,若想了解更多高低温湿热交变试验箱详细信息,可以随时联系广东星拓环境试验设备厂家,星拓工程技术团队可为您提供专业技术方案。
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